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雙向可控硅的伏安特性和檢測方法

         雙向可控硅-伏安特性        單向可控硅

        (1)反向特性

         當(dāng)控制極開路,陽極加上反向電壓時,J2結(jié)正偏,但J1、J2結(jié)反偏。此時只能流過很小的反向飽和電流,當(dāng)電壓進一步提高到J1結(jié)的雪崩擊穿電壓后,接差J3結(jié)也擊穿,電流迅速增加,特性開始彎曲,如特性O(shè)R段所示,彎曲處的電壓URO叫“反向轉(zhuǎn)折電壓”。此時,可控硅會發(fā)生永久性反向。

        (2)正向特性

         當(dāng)控制極開路,陽極上加上正向電壓時,J1、J3結(jié)正偏,但J2結(jié)反偏,這與普通PN結(jié)的反向特性相似,也只能流過很小電流,這叫正向阻斷狀態(tài),當(dāng)電壓增加,特性發(fā)生了彎曲,如特性O(shè)A段所示,彎曲處的是UBO叫:正向轉(zhuǎn)折電壓,由于電壓升高到J2結(jié)的雪崩擊穿電壓后,J2結(jié)發(fā)生雪崩倍增效應(yīng),在結(jié)區(qū)產(chǎn)生大量的電子和空穴,電子時入N1區(qū),空穴時入P2區(qū)。進入N1區(qū)的電子與由P1區(qū)通過J1結(jié)注入N1區(qū)的空穴復(fù)合,同樣,進入P2區(qū)的空穴與由N2區(qū)通過J3結(jié)注入P2區(qū)的電子復(fù)合,雪崩擊穿,進入N1區(qū)的電子與進入P2區(qū)的空穴各自不能全部復(fù)合掉,這樣,在N1區(qū)就有電子積累,在P2區(qū)就有空穴積累,結(jié)果使P2區(qū)的電位升高,N1區(qū)的電位下降,J2結(jié)變成正偏,只要電流稍增加,電壓便迅速下降,出現(xiàn)所謂負阻特性。

         這時J1、J2、J3三個結(jié)均處于正偏,可控硅便進入正向?qū)щ姞顟B(tài)---通態(tài),此時,它的特性與普通的PN結(jié)正向特性相似

         雙向可控硅-檢測方法        DIP4管腳型ZC三端雙向可控硅光電耦合器利用萬用表RXl檔判定雙向可控硅電極的方法,同時還檢查觸發(fā)能力。 

         1.判定T2極

         G極與T1極靠近,距T2極較遠。因此,G—T1之間的正、反向電阻都很小。在肦Xl檔測任意兩腳之間的電阻時,只有在G-T1之間呈現(xiàn)低阻,正、反向電阻僅幾十歐,而T2-G、T2-T1之間的正、反向電阻均為無窮大。這表明,如果測出某腳和其他兩腳都不通,就肯定是T2極。另外,采用TO—220封裝的雙向可控硅,T2極通常與小散熱板連通,據(jù)此亦可確定T2極。

         2.區(qū)分G極和T1極

         (1)找出T2極之后,首先假定剩下兩腳中某一腳為Tl極,另一腳為G極。
 

 
        (2)把黑表筆接T1極,紅表筆接T2極,電阻為無窮大。接著用紅表筆尖把T2與G短路,給G極加上負觸發(fā)信號,電阻值應(yīng)為十歐左右,證明管子已經(jīng)導(dǎo)通,導(dǎo)通方向為T1一T2。再將紅表筆尖與G極脫開(但仍接T2),若電阻值保持不變,證明管子在觸發(fā)之后能維持導(dǎo)通狀態(tài)。

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